X
Search Filters
Format Format
Subjects Subjects
Subjects Subjects
X
Sort by Item Count (A-Z)
Filter by Count
alternate test (3) 3
circuits integrats mixtos (3) 3
classifiers (3) 3
enginyeria electrònica (3) 3
integrated circuits (3) 3
mixed signal circuits (3) 3
octrees (3) 3
quadtrees (3) 3
àrees temàtiques de la upc (3) 3
621.3 - enginyeria elèctrica. electrotècnia. telecomunicacions (2) 2
analog (2) 2
band-pass filter (2) 2
band-pass filters (2) 2
biquad filter (2) 2
circuits (2) 2
engineering, electrical & electronic (2) 2
enginyeria electrònica [àrees temàtiques de la upc] (2) 2
feature selection (2) 2
indirect measurements (2) 2
microelectrònica (2) 2
signal processing (2) 2
specifications (2) 2
tractament del senyal (2) 2
training (2) 2
trees (2) 2
2 n -trees (1) 1
2-trees (1) 1
2n-trees (1) 1
analog and mixed-signal test (1) 1
analog filter (1) 1
analog metrics (1) 1
analog signature (1) 1
band guarding (1) 1
banding (1) 1
bandpass (1) 1
baumdatenstruktur (1) 1
bins (1) 1
butterworth filter (1) 1
circuit design (1) 1
circuits d'interfície (1) 1
circuits integrats (1) 1
ciències experimentals i matemàtiques (1) 1
codificació, teoria de la (1) 1
coding theory (1) 1
computer science, hardware & architecture (1) 1
computer science, interdisciplinary applications (1) 1
computer simulation (1) 1
conferences (1) 1
criteria (1) 1
data structures (1) 1
design (1) 1
enginyeria electrònica::microelectrònica [àrees temàtiques de la upc] (1) 1
indirektes messverfahren (1) 1
integrated circuit modeling (1) 1
klassiermaschine (1) 1
measurements selection (1) 1
microelectronics (1) 1
mikroelektronik (1) 1
mixed-signal circuits (1) 1
mixed-signal test (1) 1
mixed-signal testing (1) 1
noise (1) 1
octree encoding (1) 1
octrees2n-trees (1) 1
pass (1) 1
performance evaluation (1) 1
phase measurement (1) 1
product testing (1) 1
production (1) 1
production binning (1) 1
produktionsanalyse (1) 1
produkttest (1) 1
proposals (1) 1
quality binning (1) 1
quality metrics (1) 1
research (1) 1
semiconductor chips (1) 1
signalmischung (1) 1
signature compaction (1) 1
signature selection (1) 1
simulation (1) 1
simuliertes ergebnis (1) 1
specification binning (1) 1
strategy (1) 1
substrate coupling (1) 1
substrate noise (1) 1
support vector machines (1) 1
tasks (1) 1
tecnologia cmos (1) 1
tessellation (1) 1
tessellations (1) 1
tessel·lats (1) 1
test escapes (1) 1
test escapes control (1) 1
testing (1) 1
usage (1) 1
yield loss (1) 1
more...
Language Language
Publication Date Publication Date
Click on a bar to filter by decade
Slide to change publication date range


Journal Article
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), ISSN 0923-8174, 06/2017, Volume 33, Issue 3, pp. 315 - 328
Journal Article
2015 International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 09/2015, pp. 1 - 4
Testing analog and mixed-signal circuits is a costly task due to the required test time targets and high end technical resources. Indirect testing methods... 
Analog Signature | Signature Compaction | Classifiers | Phase measurement | Indirect Measurements | Mixed-Signal Testing | Noise | 2 n -Trees | Quadtrees | Band Guarding | Test Escapes Control | Biquad Filter | Alternate Test | Band-pass filters | Training | Octrees | Band-Pass Filter | Testing | Trees | Tasks | Conferences | Circuit design | Simulation | Specifications | Circuits | Criteria
Conference Proceeding
L'acoblament de soroll a través del substrat en circuits integrats mixtos és un important problema que sovint limita les prestacions de la circuiteria... 
substrate coupling | 621.3 - Enginyeria elèctrica. Electrotècnia. Telecomunicacions | integrated circuits | mixed-signal circuits | substrate noise
Dissertation
No results were found for your search.

Cannot display more than 1000 results, please narrow the terms of your search.